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多核处理器设计优化——低功耗、高可靠、易测试
『简体书』 作者：李晓维等 出版：科学出版社 日期：2021-11-01 《多核处理器设计优化：低功耗、高可靠、易测试》主要内容涉及多核处理器设计优化的三个方面：低功耗、高可靠和易测试；从处理器核、片上互连网络和内存系统三个方面论述多核处理器设计的低功耗和高可靠优化方法；从逻辑电路的可测试性体系结构以及存储器电路 ... |
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数字集成电路测试——理论、方法与实践
『简体书』 作者：李华伟、郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维 出版：清华大学出版社 日期：2024-06-01 本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发，系统地介绍了数字电路测试的完整技术体系，内容突出基础理论和关键技术，并以西门子EDA工具Tessent的设计脚本为例，介绍了这些技术在测试综 ... |
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