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章晓文 恩云飞 工业和信息化部电子第五研
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半导体集成电路的可靠性及评价方法
『简体书』 作者：章晓文,恩云飞,工业和信息化部电子第五研究所 出版：电子工业出版社 日期：2015-10-01 本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。随着集成电路设计规 ... |
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可靠性物理
『简体书』 作者：恩云飞,谢少锋,何小琦,工业和信息化部电子第五研究所 出版：电子工业出版社 日期：2015-10-01 本选题全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和元器件失效机理。全书共14章，前3章介绍可靠性物理基本理论、电子材料和应力、典型失效物理模型，后八章分别论述了微电子器件、光电子器件、高密度集成电路等11类典型元器件的工艺结构、失效机理及数理 ... |
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电子元器件失效分析技术
『简体书』 作者：恩云飞,来萍,李少平,工业和信息化部电子第五研究所 出版：电子工业出版社 日期：2015-11-01 本书是电子产品质量和可靠性方面的专业类书籍，既有基础理论，又有具体技术、方法流程和应用，可以为电子行业的相关工程人员提供很好的指导和帮助。 ... |
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