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	纳米数字集成电路老化效应：分析、预测及优化 『简体书』 作者：靳松, 韩银和著　　出版：清华大学出版社　　日期：2012-06-01 《纳米数字集成电路老化效应：分析、预测及优化》可为从事大规模数字集成电路可靠性设计及容错计算方向研究的科技人员，以及从事大规模集成电路设计和测试的工程技术人员提供参考；也可作为普通高等院校集成电路专业的教师和研究生的参考资料。 ...	詳情>>	售價：HK$ 85.1

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