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表面分析技术
『简体书』 作者：[英]约翰·C·维克曼，[英]伊恩·S·吉尔摩 编，陈建 等 出版：中山大学出版社 日期：2020-12-01 本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。 本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析，每章结 ... |
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